Publisher's Synopsis
Poprawa wlasciwosci optycznych materialu, takich jak reflektancja, wiaze sie ze zlozonym poszukiwaniem optymalnych parametrów eksperymentalnych w procesie ich otrzymywania. Wykorzystanie oprogramowania obliczeniowego do symulacji procesów wzrostu cienkich warstw stanowi istotna korzysc ze wzgledu na brak zaleznosci od rzeczywistego systemu, jak równiez mozliwosc zbadania szerszego zakresu wystepujacych wielkosci fizycznych. Ponadto, istnieje potrzeba w przemysle motoryzacyjnym, Varroc Lighting Systems(c) otrzymal zadanie poprawy wspólczynnika odbicia reflektorów aluminiowych, wiec przeprowadzilismy rozwój, przy uzyciu oprogramowania NASCAM(R), które wykorzystuje metode kinetyczna Monte Carlo do opracowania modelu ukladu fizycznego, który ma byc badany w skali nanometrycznej, pozwoli nam to na analize wplywu róznych wielkosci, które moga wplywac na wspólczynnik odbicia materialu.
